一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统，该检测系统利用太赫兹波较强的穿透性、非电离辐射特性、对龋病组织的敏感性以及龋病组织和健康组织的高对比度响应差异特性，实现了现有技术中难以做到的，对位置隐蔽、难以检测的早期釉质龋进行非电离辐射、准确、精准、直观地检测。直观地检测。直观地检测。

【技术实现步骤摘要】
一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统


[0001]本专利技术涉及太赫兹谱学成像技术，尤其涉及一种基于太赫兹谱学成像技术的釉质龋检测系统。

技术介绍

[0002]根据2017年发布的《第四次全国口腔疾病流行病学调查报告》的调查结果，近年来我国自儿童至老年人，恒牙患龋率呈快速上升态势。龋病(dental caries)是指在细菌等多种因素作用下，导致牙体硬组织无机物脱矿、有机物分解，进而形成慢性进行性破坏为主要改变的慢性感染性疾病。
[0003]目前，临床对于龋齿的检测方法主要采用视诊、X射线诊断、CT、激光荧光诊断等。其中，视诊通过肉眼直接观察牙齿有无破损、颜色改变等情况，但常在出现龋洞后才能得出诊断。X射线诊断使用X射线照射牙齿进行二维透射成像，可诊断不易发现的隐匿性龋、邻面龋等，但X射线穿过人体时会产生一定的生物学效应，尽管口腔X射线检测的放射剂量很低，孕妇和儿童仍应尽量避免接触。口腔CT可重建牙齿的三维形貌，与X光牙片相比可更加详细的诊断，但仅适用于较大的或已形成龋病的检测，难以对早期龋齿进行检测，且同样存在电离辐射的放射性危害问本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统，其特征在于，包括：飞秒激光产生及传导单元、太赫兹发射天线、第一偏振太赫兹探测天线、第二偏振太赫兹探测天线、天线控制单元、同步单元、距离探测与控制单元、光谱信号处理单元、成像重构单元和显示单元；其中，飞秒激光产生及传导单元：用于产生线偏振太赫兹脉冲光；太赫兹发射天线：用于对被检测牙齿发射线偏振太赫兹脉冲光；第一偏振太赫兹探测天线：用于探测透过被检测牙齿的太赫兹脉冲光；第二偏振太赫兹探测天线：用于探测自被检测牙齿反射的太赫兹脉冲光；天线控制单元：用于旋转控制太赫兹发射天线、第一偏振太赫兹探测天线和第二偏振太赫兹探测天线的方位角，以发射和探测不同线偏振方向的太赫兹脉冲光；同步单元：用于在旋转时保持太赫兹发射天线、第一偏振太赫兹探测天线和第二偏振太赫兹探测天线的旋转方位角相同；距离探测与控制单元：用于获取太赫兹发射天线、第一偏振太赫兹探测天线和第二偏振太赫兹探测天线至被检测牙齿表面的距离，防止发生碰撞，并计算被检测牙齿的厚度；光谱信号处理单元：用于处理第一偏振太赫兹探测天线和第二偏振太赫兹探测天线探测所得的太赫兹时域光谱信号；成像重构单元：依据光谱信号处理单元处理所得的数据，生成被检测牙齿透射和反射的多种成像数据；显示单元：用于将成像重构单元重构的成像数据进行外部显示。2.根据权利要求1所述的基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统，其特征在于，所述光谱...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴晓君，才家华，周江平，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：