下载用于测量激光的斐索干涉波长计、光学设备的技术资料

文档序号:33372915

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本发明涉及激光的测量和光学检测领域。用于测量激光的斐索干涉波长计,平行光束中的一部分光经过由平板后经过第一楔板结构形成密干涉条纹图像;平行光束中的另一部分光经过由平板后经过第二楔板结构形成疏干涉条纹图像;密干涉条纹图像、疏干涉条纹图像经过成...
该专利属于江苏师范大学所有,仅供学习研究参考,未经过江苏师范大学授权不得商用。

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