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本发明涉及一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法及系统。包括:太赫兹收发一体设备,增益天线和控制计算机。太赫兹波由发射源发出,经过增益天线后收束直接照射到扬声器表面。太赫兹探测器测量反射回来的太赫兹波强度并进行时频分析。在得出扬声器...该专利属于中国科学院沈阳自动化研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院沈阳自动化研究所授权不得商用。
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本发明涉及一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法及系统。包括:太赫兹收发一体设备,增益天线和控制计算机。太赫兹波由发射源发出,经过增益天线后收束直接照射到扬声器表面。太赫兹探测器测量反射回来的太赫兹波强度并进行时频分析。在得出扬声器...