一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法及系统。包括：太赫兹收发一体设备，增益天线和控制计算机。太赫兹波由发射源发出，经过增益天线后收束直接照射到扬声器表面。太赫兹探测器测量反射回来的太赫兹波强度并进行时频分析。在得出扬声器表面的各点具有最大能量的频率后进行成像，通过图像上的频率异常点检测出扬声器的破损或异常形状的位置。本发明专利技术不需要昂贵的的超声探测设备以及放射性较强的射线照相法设备。通过对扬声器发射太赫兹波，并采集回波数据解析以及对相位信息的时频分析，获取其表面的各点所具有最大能量的振动频率。通过频率图像中的异常频率出现位置进而确定扬声器表面产生破损或者形状异常的位置。状异常的位置。状异常的位置。

【技术实现步骤摘要】
一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法及系统


[0001]本专利技术涉及到使用太赫兹波对扬声器的振膜进行无损检测的领域。具体来说是一种使用太赫兹波实现无损检测的方法及系统。

技术介绍

[0002]随着我国工业的发展和技术水平的不断提高，产品线上对成品的组织状态和结构的要求也逐渐提高。在该背景下，无损检测技术进入了广大研究人员的视野中。无损检测技术是指在检查物体时不影响检测对象的使用性能和组织结构的前提下，利用材料异常的结构或者缺陷所引起的热、声、光、电、磁等反应的变化，结合先进的处理方法和特制的仪器设备进行检测。现如今主要的无损检测方法是使用超声波或者X射线进行检测。然而，近几十年，随着科研人员在光子学和电子学领域的深入研究，太赫兹波的辐射和探测技术也得到了飞速发展。它的波长在0.03mm到3mm范围内。与超声波无损检测相比，太赫兹波具有更高的频率并且太赫兹波设备的频域覆盖面较广。通过对太赫兹回波的分析可以得到更加详细的物体状况。。另外，与X射线无损检测相比，太赫兹波的波长更长并且更为安全。这种特性使得太赫兹波能够穿过表面材料探知扬声器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：利用太赫兹收发一体设备发射预设频率的太赫兹波，使太赫兹波经增益天线后沿着设定的传播方向照射待测扬声器，并使其与扬声器振膜的振动信号发生干涉，产生干涉回波信号；通过位移台移动，实时调整固定在其上的扬声器的位置，实现扬声器在其振膜所在平面内按照预设步长和轨迹运动，使得太赫兹波扫描照射范围能覆盖整个振膜；设定采样次数，控制太赫兹收发一体设备采集对应振膜各个采样点位的一系列太赫兹波经由扬声器振膜的振动干涉后的回波强度序列并存储；解析回波强度序列的值、获取回波相位信息，根据希尔伯特
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黄变换解析扬声器振膜表面各采样点位的最大能量和频率；可视化扬声器振膜各采样点位的最大能量的频率
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坐标图谱，判断待测扬声器振膜是否存在缺陷以及缺陷位置。2.根据权利要求1所述的一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法，其特征在于，所述预设频率满足香农采样定理，并根据待测信号的泛音频率进行多倍设置。3.根据权利要求1所述的一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法，其特征在于，所述位移台移动为在扬声器振膜所在平面内进行水平和垂直两个方向的二维移动。4.根据权利要求1或3所述的一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法，其特征在于，所述预设轨迹为逐行逐列移动，使得太赫兹波对扬声器振膜表面上各个采样点进行逐行逐列扫描。5.根据权利要求1所述的一种使用太赫兹波对扬声器振膜进行无损检测的方法，其特征在于，所述根据希尔伯特
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黄变换解析扬声器振膜表面各采样点位的最大能量频率，包括：1)利用经验模态分解EMD方法对太赫兹的回波信号进行分解，将其分解成由多个经验模态函数IMF以及残差组合的形式，具体表达如下：其中，ε(t)是太赫兹回波信号，i为经验模态分量的数量，IMF
i
是固有经验模态分量，r
K
是原始信号减去各个经验模态分量后的残差余项；2)对每个经验模态分量IMF进行希尔伯特变换，将IMF分量设为x(t),则其希尔伯特变换为H[x(...

【专利技术属性】
技术研发人员：祁峰，徐涤非，
申请(专利权)人：中国科学院沈阳自动化研究所，
类型：发明
国别省市：