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本发明公开了一种基于库仑计的坏块检测方法、设备及存储介质，该方法包括：在对非易失性存储器进行检测的过程中，通过所述库仑计芯片记录各个操作所消耗的电能；判断各个操作所消耗的电能是否都在预设范围内；将一个或多个操作所消耗的电能不在预设范围内的块...
该专利属于深圳市德明利技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市德明利技术股份有限公司授权不得商用。

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