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本申请提供一种元器件外观缺陷的检测方法及系统，其中，所述方法包括：获取待检测元器件的表面图像数据；对表面图像数据进行预处理，得到目标图像数据；将目标图像数据输入图像检测模型中，对待检测元器件进行定位，输出元器件前景图像；将元器件前景图像输入...
该专利属于航天科工防御技术研究试验中心所有，仅供学习研究参考，未经过航天科工防御技术研究试验中心授权不得商用。

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