一种元器件外观缺陷的检测方法及系统技术方案

本申请提供一种元器件外观缺陷的检测方法及系统，其中，所述方法包括：获取待检测元器件的表面图像数据；对表面图像数据进行预处理，得到目标图像数据；将目标图像数据输入图像检测模型中，对待检测元器件进行定位，输出元器件前景图像；将元器件前景图像输入预训练过的图像检测模型中，输出带有缺陷检测结果的结果图像数据。本检测方法及系统，通过图像检测模型对元器件的外观缺陷进行检测，并且可以得到带有缺陷检测结果的结果图像数据。不仅可以对缺陷类型进行判断，还可以给出缺陷的位置信息，检测精度高、检测时间短、智能化程度高，可以避免因人的经验及主观因素导致的漏判或错判现象的发生。错判现象的发生。错判现象的发生。

【技术实现步骤摘要】
一种元器件外观缺陷的检测方法及系统


[0001]本申请涉及元器件外观检测设备
，尤其涉及一种元器件外观缺陷的检测方法及系统。

技术介绍

[0002]随着元器件送检任务的逐年增加，送检器件的外观及质量也出现了良莠不齐的情况，例如器件外观存在打磨痕迹、翻新痕迹、引线断裂、引脚弯曲变形以及封装壳体缺陷等情况，批质量不一致包括标识内容、标识方式、标记信息、表面颜色不一致等缺陷，导致这些缺陷产生的原因有些是器件在封装过程中因工艺控制不严格导致的，还有些是假冒伪劣器件，还有些是在包装、运输过程中导致器件受损而造成的。目前，对于元器件的外观缺陷识别还处于依靠人工的阶段，检测结果的准确性依赖于人的经验及主观因素，而人的经验及主观因素会导致漏判，造成检测结果的准确性较差，检测耗费的时间很长。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请的目的在于提出一种元器件外观缺陷的检测方法及系统。
[0004]基于上述目的，本申请提供了一种元器件外观缺陷的检测方法，包括：
[0005]获取待检测元器件的表面图像数据；<br/>[0006]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种元器件外观缺陷的检测方法，其特征在于，包括：获取待检测元器件的表面图像数据；对所述表面图像数据进行预处理，得到目标图像数据；将所述目标图像数据输入图像检测模型中，对所述待检测元器件进行定位，输出元器件前景图像；将所述元器件前景图像输入预训练过的图像检测模型中，输出带有缺陷检测结果的结果图像数据；其中，所述缺陷检测结果包括所述待检测元器件的缺陷类型信息、缺陷数量信息和/或缺陷位置信息。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述将所述元器件前景图像输入预训练过的图像检测模型中，输出带有缺陷检测结果的结果图像数据，包括：将所述元器件前景图像进行网格划分，并获取每个网格的预测框，得到带有预测框的预测图像数据；将所述带有预测框的预测图像数据输入所述图像检测模型中，输出所述结果图像数据。3.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，所述图像检测模型为基于YOLOv4网络构建的图像检测模型。4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取待检测元器件的表面图像数据包括：获取所述待检测元器件的原始表面图像；将所述原始表面图像的图像信号转化为数据信号；将所述数据信号存储为所述表面图像数据。5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述对所述表面图像数据进行预处理，得到目标图像数据，包括：对所述表面图像数据依次进行去噪、灰度化和顶帽变换，得到所述目标图像数据和背景图像数据。6.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘净月，王坦，赵慧婷，徐伟，马骁，孙铮，庞明奇，罗晶，乔秀铭，罗俊杰，贺洋，岳冰，韩树强，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：