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本发明公开了一种校准光度分析仪的方法，所述光度分析仪设计用于确定分析物的硅酸根含量，所述方法包括以下步骤：检测第一测量点，步骤如下：将第一试剂添加至第一校准标准物的样品中，将第二试剂添加至该样品中，将第三试剂添加至该样品中；检测第二测量点，...
该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司授权不得商用。

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