校准光度分析仪的方法技术

本发明专利技术公开了一种校准光度分析仪的方法，所述光度分析仪设计用于确定分析物的硅酸根含量，所述方法包括以下步骤：检测第一测量点，步骤如下：将第一试剂添加至第一校准标准物的样品中，将第二试剂添加至该样品中，将第三试剂添加至该样品中；检测第二测量点，其中所述第二测量点与所述第一测量点不同，步骤如下：将所述第二试剂添加至第二校准标准物的样品中，将所述第一试剂添加至该样品中，将第三试剂添加至该样品中；使用所述第一测量点和第二测量点确定校准线的零点和斜率。测量点确定校准线的零点和斜率。测量点确定校准线的零点和斜率。

【技术实现步骤摘要】
校准光度分析仪的方法


[0001]本专利技术涉及一种校准光度分析仪的方法，该光度分析仪设计用于确定分析物的硅酸根(silicate)含量。

技术介绍

[0002]在过程计量中，例如在化学、生物技术、制药和食品技术过程中，以及在环境计量中，此类自动分析仪(也称为分析设备)用于确定液体样品的被测变量。例如，分析仪可用于监测和优化污水处理厂的清洁性能，监测工艺用水或饮用水，或监测食品质量。例如，在样品流体，例如液体或液体混合物、乳液、悬浮液、气体或气体混合物中，测量和监测特定物质(也称为分析物)的比例。例如，分析物可以是离子，例如铵离子、磷酸根、硅酸根或硝酸根、钙离子、钠离子或氯离子，或者生物或生化化合物，例如激素，甚至微生物。在过程计量中，特别是在水监测领域，使用分析设备确定的其它参数是总和参数，如总有机碳(TOC)、总氮(TN)、总磷(TP)或化学需氧量(COD)。例如，分析设备可以设计为箱式装置。目前，打算开发的是用于确定硅酸根含量的分析仪。
[0003]待分析样品通常在分析设备中进行处理，在所述分析设备中它与一种或多种试剂混合，从而在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校准光度分析仪(1)的方法，所述光度分析仪设计用于确定分析物的硅酸根含量，所述方法包括以下步骤：
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检测第一测量点，步骤如下：
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将第一试剂添加至第一校准标准物的样品中，
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将第二试剂添加至该样品中，
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将第三试剂添加至该样品中，
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检测第二测量点，其中所述第二测量点与所述第一测量点不同，步骤如下：
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将所述第二试剂添加至第二校准标准物的样品中，
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将所述第一试剂添加至该样品中，
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将第三试剂添加至该样品中，
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使用所述第一测量点和第二测量点确定校准线的零点和斜率。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一试剂包含柠檬酸溶液，并且所述第二试剂包含钼酸盐硫酸溶液，并且所述第三试剂包含氨基萘酚磺酸溶液。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述第二校准标准物...

【专利技术属性】
技术研发人员：丹尼尔，
申请(专利权)人：恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司，
类型：发明
国别省市：