下载半导体测试编带一体机的测试机构的技术资料

文档序号:33304553

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型涉及技术领域,尤其是指半导体测试编带一体机的测试机构。它解决了常规的测试机构需要通过更换测试底座来对不同规格的半导体进行测试,较为繁琐的问题。它包括底板,所述底板的上表面设置有调节组件,所述调节组件的内部设置有第一夹持部件,所述底...
该专利属于深圳市合泰智造技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市合泰智造技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。