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本发明公开了一种故障预测性能的评估方法及装置,可以确定目标板卡中的至少一个关键电路;确定各关键电路的关键失效模式失效率,确定目标板卡的总关键失效模式失效率;分别确定各关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率,确定目标板卡的...该专利属于北京广利核系统工程有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京广利核系统工程有限公司授权不得商用。
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