【技术实现步骤摘要】
一种故障预测性能的评估方法及装置
[0001]本专利技术涉及故障预测
，尤其涉及一种故障预测性能的评估方法及装置。
技术介绍
[0002]随着故障预测与健康管理(Prognostic and Health Management，PHM)的发展，核电仪控智能运维技术的推进，核电仪控系统板卡的故障诊断技术不断提高。
[0003]具体的，现有技术可以基于诊断覆盖率对板卡的诊断设计效果进行评估。其中，如果诊断覆盖率越高，则表明板卡在发生危险失效时更容易被立即诊断出来。诊断覆盖率可以反映出核电仪控系统的安全性。
[0004]当前，现有技术也可以对板卡可能出现的故障进行提前性的预测。当预测出板卡会出现故障时，可以针对故障来提前准备实施相应的故障处理流程，或者对板卡进行调整性控制以避免其出现故障，降低故障影响。需要说明的是，如果对板卡的故障预测的设计性能越好，则表明板卡在即将发生故障时就更容易被预测出来。
[0005]但是，现有技术无法有效评估对板卡的故障预测性能。
技术实现思路
[0006]鉴于上述问题，本专利技术提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的故障预测性能的评估方法及装置，技术方案如下：
[0007]一种故障预测性能的评估方法，包括：
[0008]确定目标板卡中的至少一个关键电路；
[0009]确定各所述关键电路的关键失效模式失效率；
[0010]基于各所述关键电路的关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总关键失效模式失效率；>[0011]分别确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率；
[0012]基于各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总可预测关键失效模式失效率；
[0013]基于所述目标板卡的总关键失效模式失效率和所述总可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的预测覆盖率；
[0014]基于所述目标板卡的预测覆盖率，评估对所述目标板卡的故障预测性能。
[0015]可选的，所述分别确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率，包括：
[0016]分别确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的调整系数；
[0017]对于任一所述关键电路：将该所述关键电路的关键失效模式失效率与相应的所述调整系数的乘积，确定为该所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率。
[0018]可选的，所述基于各所述关键电路的关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总关键失效模式失效率，包括：
[0019]将各所述关键电路的关键失效模式失效率的和值，确定为所述目标板卡的总关键失效模式失效率。
[0020]可选的，所述基于各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总可预测关键失效模式失效率，包括：
[0021]确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率的和值；
[0022]将确定出的所述和值确定为所述目标板卡的总可预测关键失效模式失效率。
[0023]可选的，所述基于所述目标板卡的总关键失效模式失效率和所述总可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的预测覆盖率，包括：
[0024]确定所述总可预测关键失效模式失效率与所述总关键失效模式失效率的比值；
[0025]将确定出的所述比值确定为所述目标板卡的预测覆盖率。
[0026]可选的，所述基于所述目标板卡的预测覆盖率，评估对所述目标板卡的故障预测性能，包括：
[0027]当所述目标板卡的预测覆盖率越大时，确定对所述目标板卡的故障预测性能越强。
[0028]一种故障预测性能的评估装置，包括：电路确定单元、第一确定单元、第二确定单元、第三确定单元、第四确定单元、覆盖率确定单元和评估单元；其中：
[0029]所述电路确定单元，用于确定目标板卡中的至少一个关键电路；
[0030]所述第一确定单元，用于确定各所述关键电路的关键失效模式失效率；
[0031]所述第二确定单元，用于基于各所述关键电路的关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总关键失效模式失效率；
[0032]所述第三确定单元，用于分别确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率；
[0033]所述第四确定单元，用于基于各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总可预测关键失效模式失效率；
[0034]所述覆盖率确定单元，用于基于所述目标板卡的总关键失效模式失效率和所述总可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的预测覆盖率；
[0035]所述评估单元，用于基于所述目标板卡的预测覆盖率，评估对所述目标板卡的故障预测性能。
[0036]可选的，所述第三确定单元，包括：系数确定单元和第五确定单元；
[0037]所述系数确定单元，用于分别确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的调整系数；
[0038]所述第五确定单元，用于对于任一所述关键电路：将该所述关键电路的关键失效模式失效率与相应的所述调整系数的乘积，确定为该所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率。
[0039]可选的，所述第二确定单元，用于将各所述关键电路的关键失效模式失效率的和值，确定为所述目标板卡的总关键失效模式失效率。
[0040]可选的，所述第四确定单元，包括：和值确定单元和第六确定单元；
[0041]所述和值确定单元，用于确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率的和值；
[0042]所述第六确定单元，用于将确定出的所述和值确定为所述目标板卡的总可预测关键失效模式失效率。
[0043]可选的，所述覆盖率确定单元，包括：比值确定单元和第七确定单元；
[0044]所述比值确定单元，用于确定所述总可预测关键失效模式失效率与所述总关键失效模式失效率的比值；
[0045]所述第七确定单元，用于将确定出的所述比值确定为所述目标板卡的预测覆盖率。
[0046]可选的，所述评估单元，用于当所述目标板卡的预测覆盖率越大时，确定对所述目标板卡的故障预测性能越强。
[0047]本专利技术提出的故障预测性能的评估方法及装置，可以确定目标板卡中的至少一个关键电路；确定各关键电路的关键失效模式失效率；基于各关键电路的关键失效模式失效率，确定目标板卡的总关键失效模式失效率；分别确定各关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率；基于各关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率，确定目标板卡的总可预测关键失效模式失效率；基于目标板卡的总关键失效模式失效率和总可预测关键失效模式失效率，确定目标板卡的预测覆盖率；基于目标板卡的预测覆盖率，评估对目标板卡的故障预测本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种故障预测性能的评估方法，其特征在于，包括：确定目标板卡中的至少一个关键电路；确定各所述关键电路的关键失效模式失效率；基于各所述关键电路的关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总关键失效模式失效率；分别确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率；基于各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总可预测关键失效模式失效率；基于所述目标板卡的总关键失效模式失效率和所述总可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的预测覆盖率；基于所述目标板卡的预测覆盖率，评估对所述目标板卡的故障预测性能。2.根据权利要求1所述的故障预测性能的评估方法，其特征在于，所述分别确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率，包括：分别确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的调整系数；对于任一所述关键电路：将该所述关键电路的关键失效模式失效率与相应的所述调整系数的乘积，确定为该所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率。3.根据权利要求1所述的故障预测性能的评估方法，其特征在于，所述基于各所述关键电路的关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总关键失效模式失效率，包括：将各所述关键电路的关键失效模式失效率的和值，确定为所述目标板卡的总关键失效模式失效率。4.根据权利要求1所述的故障预测性能的评估方法，其特征在于，所述基于各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的总可预测关键失效模式失效率，包括：确定各所述关键电路的关键失效模式失效率对应的可预测关键失效模式失效率的和值；将确定出的所述和值确定为所述目标板卡的总可预测关键失效模式失效率。5.根据权利要求1所述的故障预测性能的评估方法，其特征在于，所述基于所述目标板卡的总关键失效模式失效率和所述总可预测关键失效模式失效率，确定所述目标板卡的预测覆盖率，包括：确定所述总可预测关键失效模式失效率与所述总关键失效模式失效率的比值；将确定出的所述比值确定为所述目标板卡的预测覆盖率。6.根据权利要求1所述的故障预测性能的评估方法，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：李明利，李刚，石桂连，杨程，莫昌瑜，王纪坤，张晓冬，马建新，贾虎军，赵小鹏，李周，
申请(专利权)人：北京广利核系统工程有限公司，
类型：发明
国别省市：
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