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一种基于自监督深度学习的点云任意尺度上采样方法技术
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下载一种基于自监督深度学习的点云任意尺度上采样方法的技术资料
文档序号:33291012
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本发明一种基于自监督深度学习的点云任意尺度上采样方法属于点云处理技术领域;该方法通过估计顶点到点云对应的隐表面的距离,生成一系列种子顶点;对于每个种子顶点,将距离其最近的若干个点云顶点坐标作为神经网络的输入,输出该顶点在隐表面上的投影点;最...
该专利属于哈尔滨工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。
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