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一种液相法碳化硅长晶时晶体质量的测量系统及方法技术方案
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下载一种液相法碳化硅长晶时晶体质量的测量系统及方法的技术资料
文档序号:33288728
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本发明公开了一种液相法碳化硅长晶时晶体质量的测量系统,包括设置有液体原料的坩埚、石墨盘以及驱动石墨盘上下移动的石墨盘驱动装置,石墨盘下方设置生长晶体籽晶,籽晶或晶体始终与液体原料接触,石墨盘上方设置电连接的第一导电棒,坩埚下方设置电连接的第...
该专利属于南京晶升装备股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南京晶升装备股份有限公司授权不得商用。
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