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本实用新型提供一种用于并行测试IGBT芯片和FRD芯片的测试夹具，包括底座，所述底座上设有测试槽，所述测试槽连接有DBC测试板，所述底座上方设有升降装置，所述升降装置连接有盖板，所述盖板上排布有探针；所述探针面向所述DBC测试板；所述DBC...
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