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本发明揭示了一种基于ATE通用CIS芯片测试系统及方法，该系统包括：系统测试模块、光源控制模块、光源衰减模块、光源校准模块、光源模块以及分析处理模块。本发明对光源控制模块和光源衰减模块进行多档位控制，达到高精度的目的，从而满足测试芯片需要的...
该专利属于南京伟测半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京伟测半导体科技有限公司授权不得商用。

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