一种基于ATE通用CIS芯片测试系统及方法技术方案

本发明专利技术揭示了一种基于ATE通用CIS芯片测试系统及方法，该系统包括：系统测试模块、光源控制模块、光源衰减模块、光源校准模块、光源模块以及分析处理模块。本发明专利技术对光源控制模块和光源衰减模块进行多档位控制，达到高精度的目的，从而满足测试芯片需要的测试光源，且可以使用自动化测试设备对光源控制模块、光源衰减模块和光源校准模块执行精准的校准操作，进一步消除由于光源驱动电源不稳定以及光源发光材料老化引起的光照强度的变化导致的测试光线光强发生变化，从而消除因此带来的测试误差，达到提高测试精准度的目的。达到提高测试精准度的目的。达到提高测试精准度的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种基于ATE通用CIS芯片测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及集成电路领域，特别是涉及一种基于ATE通用CIS芯片测试系统及方法。

技术介绍

[0002]CMOS图像传感器是采用CMOS互补金属氧化物半导体技术制造的图像传感器，其工作原理是在每个像素点上采用光电二极管进行光电转换并使用放大器和A/D转换电路实现将图像转换为稳定的电信号。相较于CCD图像传感器, CMOS图像传感器拥有如下几个关键优势：生产差成本低，成像速度快，更容易系统集成，低功耗，动态范围宽，抗辐射性能强等，使得CIS（CMOS Image Sensor ，图像传感器）芯片快速成长。另外，随着智能手机，物联网，生物识别，生命科学的快速发展CIS芯片也快速成长为半导体产业最耀眼的产品之一。
[0003]CIS芯片制备完成之后均需要对CIS芯片进行测试之后才能进入出货销售，以确保交货的良率。随着CIS芯片技术的快速发展，对CIS芯片的测试也提出更高的要求。其中主要的技术要求为：1、对测试数据速率的需求，当前由于CIS芯片的像素急剧提升高达数千万像素。所以，要完成如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于ATE通用芯片测试系统，其特征在于，包括：系统测试模块，用于控制测试光源发射不同光强的测试光线，获取芯片的测试结果；光源控制模块，与所述系统测试模块相连，根据所述系统测试模块的光源亮度参数控制测试光源进行多档位亮度调节；光源模块，与所述光源控制模块相连，根据所述光源控制模块的光源亮度控制指令发射出测试光源；光源衰减模块，与所述系统测试模块相连，根据所述系统测试模块的光源衰减度参数控制所述光源模块进行多阶衰减度调节，所述测试光源通过所述光源衰减模块进行光强衰减后用于对待测芯片进行测试；光源校准模块，与所述系统测试模块相连，用于检测比对测试光源与待测芯片需求的光源的匹配度，并将补偿参数反馈到所述系统测试模块；分析处理模块，与所述系统测试模块相连，根据待测芯片的测试需求确定测试光源的光源亮度参数以及光源衰减度参数，同时对待测芯片的采样结果进行分析，并筛选出合格的芯片。2.如权利要求1所述的基于ATE通用芯片测试系统，其特征在于，所述光源亮度参数包括1024阶档位，且不同档位下所述光源模块发射出不同亮度的测试光源。3.如权利要求1所述的基于ATE通用芯片测试系统，其特征在于，所述光源衰减度参数包括10阶衰减度，用于对所述测试光源进行相应的衰减。4.一种基于ATE通用芯片测试方法，采用如权利要求1至3中任一项所述的基于ATE通用芯片测试系统，其特征在于，所述方法包括如下步骤：分析处理模块根据待测芯片的测试需求确定测试光源的光源亮度参数以及光源衰减度参数，并通过系统测试模块将所述光源亮度参数以及光源衰减度参数分别发送至光源控制模块以及光源衰减模块；所述光源控制模块根据光源亮度参数控制光源模块发射出多档位亮度的测试光源；所述光...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘琨，左上勇，袁常乐，王婷，
申请(专利权)人：南京伟测半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：