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本发明公开了一种逐次逼近型ADC的电容校准方法，包括：以理想电容的数字权重初始化开关电容模块中所有待校准电容的差分模式数字权重和单端模式数字权重；依次获取各待校准电容的差分模式下的实际数字权重，并赋值给对应所述差分模式数字权重；依次获取各待...
该专利属于灿芯半导体（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过灿芯半导体（上海）股份有限公司授权不得商用。

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