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一种测试用封装基板及测试系统技术方案
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文档序号:33241321
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本实用新型提供了一种测试用封装基板及测试系统,该测试用封装基板包括第一介质层、两组布线层。两组布线层分别层叠在第一介质层的两个面上;每组布线层包括依次层叠在第一介质层对应面上的至少两层布线层;同组布线层中任意相邻的两层布线层之间均通过第二介...
该专利属于海光信息技术股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过海光信息技术股份有限公司授权不得商用。
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