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本发明的一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统，包括两个固体太赫兹微波源并列设置对应形成两个光路；混频器包括两个，分别设置在相位差待测区域的一侧，呈对立设置；第一光路为第一太赫兹固体源的光源出光经透镜汇聚后经反射镜反射，经分束器后一部分反射...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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