一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统技术方案

本发明专利技术的一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统，包括两个固体太赫兹微波源并列设置对应形成两个光路；混频器包括两个，分别设置在相位差待测区域的一侧，呈对立设置；第一光路为第一太赫兹固体源的光源出光经透镜汇聚后经反射镜反射，经分束器后一部分反射后再经另一个分束器透射到达混频器一，另一部分透射进去待测区域后经反射镜反射再经分束器透射至混频器二方向；第二光路为第二太赫兹固体源的光源出光经透镜汇聚后经反射镜反射，经分束器后一部分反射后再经反射镜和分束器进入混频器一，另一部分直接经分束器反射后至混频器二。本发明专利技术采用太赫兹源代替传统的激光，可使得干涉相位诊断系统精度高、体积紧凑、易维护、稳定性高。稳定性高。稳定性高。

【技术实现步骤摘要】
一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统


[0001]本专利技术涉及干涉相位检测
，具体涉及一种强电磁环境中使用的以太赫兹固体微波源为束源的紧凑型干涉相位检测诊断系统。

技术介绍

[0002]干涉相位检测在成像与检测等领域具有广泛应用，比如医学影像诊断、磁约束聚变领域、空间气候领域。对于上述这些在强电磁环境下的应用而言，不仅对相位测量的精度要求很高，而且对诊断系统的可靠性、易维护性、稳定性和空间集成的要求也较高。目前干涉相位测量的束源通常采用激光，然而折射效应造成激光的光路对环境温度十分敏感，使得系统不易维护，稳定性差。另外强电磁环境下，特别是脉冲式的装置放电运行时，金属制的光路光学元器件振动会造成光路偏移使诊断误差增大甚至失效。

技术实现思路

[0003]本专利技术提出的一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统，可解决上述技术背景中的问题之一。
[0004]为实现上述目的，本专利技术采用了以下技术方案：
[0005]一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统，包括布置在源区的束源以及布置在测量区的混频器，还包括透本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统，包括布置在源区的束源以及布置在测量区的混频器，还包括透镜、分束器及反射镜；其特征在于，所述束源为固体太赫兹微波源，所述固体太赫兹微波源包括两个即第一太赫兹固体源和第二太赫兹固体源，两个固体太赫兹微波源并列设置对应形成两个光路；混频器包括两个，混频器一和混频器二，分别设置在相位差待测区域的一侧，呈对立设置；第一光路为第一太赫兹固体源的光源出光经透镜汇聚后经反射镜反射，经分束器后一部分反射后再经另一个分束器透射到达混频器一，另一部分透射进去待测区域后经反射镜反射再经分束器透射至混频器二方向；第二光路为第二太赫兹固体源的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛文哲，卫子安，谢锦林，丁卫星，
申请(专利权)人：中国科学技术大学，
类型：发明
国别省市：