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多层掩膜版之间套刻结果的预测方法及装置、终端制造方法及图纸
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下载多层掩膜版之间套刻结果的预测方法及装置、终端的技术资料
文档序号:33204038
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一种多层掩膜版之间套刻结果的预测方法及装置、终端,所述方法包括:选择套刻图形的一个或多个位置参数,针对每个位置参数,自第一层掩膜版起,对多层掩膜版中各张掩膜版的套刻图形的位置参数值进行多轮预测,并针对每轮预测结果,确定不同的掩膜版之间的套刻...
该专利属于全芯智造技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过全芯智造技术有限公司授权不得商用。
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