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本揭示文件有关一种效能计算系统、效能计算方法与电子装置。一种效能计算方法，适用于晶片，晶片包含多个振荡器电路系统，多个振荡器电路系统用于产生多个振荡信号，且用于感测晶片的工作状态以改变多个振荡信号的周期。计算方法包含以下流程：当晶片处于第一...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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