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本发明公开了一种半导体元件及其制备方法,其中制备方法包括:提供衬底,在衬底上形成外延层;外延层远离衬底的一侧包括沟槽;于沟槽的侧壁以及底部形成第一绝缘层,并在第一绝缘层所围空间中形成第一多晶硅层和第二多晶硅层;其中第二多晶硅层作为栅极多晶硅...该专利属于恒泰柯半导体(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过恒泰柯半导体(上海)有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种半导体元件及其制备方法,其中制备方法包括:提供衬底,在衬底上形成外延层;外延层远离衬底的一侧包括沟槽;于沟槽的侧壁以及底部形成第一绝缘层,并在第一绝缘层所围空间中形成第一多晶硅层和第二多晶硅层;其中第二多晶硅层作为栅极多晶硅...