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本发明提供一种电子元件检测方法及设备，包括：使一温控装置控制一检测室内的温度保持在一预设温度；使电子元件由一供给机构经一震动送料机构输送至一载盘的载槽中，并受该载盘以间歇性旋转流路搬送至一检测机构进行检测，皆在该检测室内的该预设温度下被执行...
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