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用布里渊系统测出待测介质的布里渊频移值和声速的方法，它涉及的是非线性光学领域。它解决了使用一种Ｆ－Ｐ干涉仪只能测量特定入射光波长情况下的介质布里渊频移值和声速，而给测量带来不便的问题。其测量方法步骤为：在５中放入待测介质００１；在７中放入由...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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