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本实用新型公开了一种芯片颗粒检测及不良颗粒去除装置，其技术方案是：包括壳体，所述壳体内部设有移动机构和推动机构，所述移动机构包括电机，所述电机设于壳体内部，所述电机输出端固定连接有第二转动杆，所述第二转动杆顶部设有螺纹杆，所述螺纹杆一端与壳...
该专利属于深圳市同和光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市同和光电科技有限公司授权不得商用。

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