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本发明提供了一种半导体探针测试治具及系统，包括:底座、承载组件、固定组件、安装组件及探针本体，所述承载组件及所述固定组件设置在所述底座上，所述探针本体通过所述安装组件安装在所述固定组件上，所述探针本体位于所述承载组件上方，所述承载组件用于承...
该专利属于深圳市高麦电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市高麦电子有限公司授权不得商用。

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