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本发明公开了一种用于半导体器件老化测试的机台，包括底座，底座上固定有转动座，转动座内转动安装有转盘，转盘上固定有螺纹杆，螺纹杆上设置有螺纹筒，螺纹筒上固定有台面，台面上固定有限位筒，限位筒内滑动套设有与底座固定的限位杆，台面上固定有置物座，...
该专利属于苏州欣华锐电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州欣华锐电子有限公司授权不得商用。

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