一种用于半导体器件老化测试的机台制造技术

本发明专利技术公开了一种用于半导体器件老化测试的机台，包括底座，底座上固定有转动座，转动座内转动安装有转盘，转盘上固定有螺纹杆，螺纹杆上设置有螺纹筒，螺纹筒上固定有台面，台面上固定有限位筒，限位筒内滑动套设有与底座固定的限位杆，台面上固定有置物座，置物座上放置有半导体本体。本发明专利技术通过对处理器匹配的面板进行设定控制，使物料平稳的上升下降，抬升高度通过传感器来控制，不需要人工操作，降低工人劳动强度，节约了时间与人工并极大地提高了生产效率，通过更换叉脚，可以兼容不同的物料，实现多种产品情况的通用性。实现多种产品情况的通用性。实现多种产品情况的通用性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体器件老化测试的机台


[0001]本专利技术涉及半导体器件老化测试
，具体为一种用于半导体器件老化测试的机台。

技术介绍

[0002]随着半导体产业的飞速发展，国内半导体器件从低端逐步向中高端升级，在航天航空，工控，汽车，医疗等领域，对于半导体器件的高品质，高可靠性的要求，需要可以用于批量生产的半导体老化测试设备。
[0003]半导体的老化检测主要通过恒温恒湿箱体进行环境模拟，对半导体进行老化破坏，然后通过万用表等电性设备进行接触测试，从而获得数据，然后与正常数据对比，获得老化信息。
[0004]测试时，主要将老化后的半导体摆放在可升降台的台面上，然后缸体推动，使得升降台上下移动，从而使得半导体与安装在正上方的万用表探针进行接触，实现测量，但常规的升降缸体需要人工反复不断的按压，费时费力，且距离把控过大，对探针容易出现碰撞挤压损伤。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种用于半导体器件老化测试的机台，以解决对升降台操作的问题的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体器件老化测试的机台，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上固定有转动座(11)，所述转动座(11)内转动安装有转盘(12)，所述转盘(12)上固定有螺纹杆(13)，所述螺纹杆(13)上设置有螺纹筒(14)，所述螺纹筒(14)上固定有台面(15)，所述台面(15)上固定有限位筒(18)，所述限位筒(18)内滑动套设有与底座(1)固定的限位杆(19)，所述台面(15)上固定有置物座(16)，所述置物座(16)上放置有半导体本体(17)。2.根据权利要求1所述的一种用于半导体器件老化测试的机台，其特征在于：所述底座(1)上固定有电机(2)，电机(2)的转轴上固定有驱动带轮(21)。3.根据权利要求2所述的一种用于半导体器件老化测试的机台，其特征在于：所述螺纹杆(13)上固定套接有联动带轮(22)，联动带轮(22)与驱动带轮(21)采用皮带(23)传动。4.根据权利要求3所述的一种用于半导体器件老化测试的机台，其特征在于：所述底座(1)上固定有机架(3)，机架(3)上固定有电子万用表(31)，电子万用表(31)上固定有针座(32)，针座(32)内插入有探针(33)。5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈冬兵，
申请(专利权)人：苏州欣华锐电子有限公司，
类型：发明
国别省市：