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本申请的实施例公开了一种芯片设计方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及芯片设计技术领域，为便于提高芯片的设计效率而发明。所述方法，包括：确定裂片的第一尺寸的第一变化范围和第一变化步长，并确定裂片的第二尺寸的第二变化范围及第二变化步长；其中...
该专利属于成都海光集成电路设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都海光集成电路设计有限公司授权不得商用。

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