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一种避免直接接触的集成电路测试装置，包括：基体，其外形为长方体形结构，所述基体与水平方向平行，且基体设置有支撑机构；旋转屏，其设置在基体的外侧，所述旋转屏与基体构成旋转机构，且旋转屏设置有检测机构；夹紧板，其设置在基体的上端。该避免直接接触...
该专利属于李磊所有，仅供学习研究参考，未经过李磊授权不得商用。

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