一种避免直接接触的集成电路测试装置制造方法及图纸

一种避免直接接触的集成电路测试装置，包括：基体，其外形为长方体形结构，所述基体与水平方向平行，且基体设置有支撑机构；旋转屏，其设置在基体的外侧，所述旋转屏与基体构成旋转机构，且旋转屏设置有检测机构；夹紧板，其设置在基体的上端。该避免直接接触的集成电路测试装置设置有定位装夹机构，能够方便使用者对集成电路板进行定位装夹，从而有利于对集成电路板进行检测，只需将弹簧夹掰开，然后把集成电路板对准基体上端的限位块卡入，弹簧推动夹紧板将集成电路板顶住，防止集成电路板左右晃动，同时松开弹簧夹，弹簧夹夹住集成电路板，避免集成电路板上下抖动，从而方便用检测装置对集成电路板检测，十分方便，增加了实用性。增加了实用性。增加了实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种避免直接接触的集成电路测试装置


[0001]本技术涉及
，具体为一种避免直接接触的集成电路测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路是采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，但是目前市场上现有的集成电路尚有很多不足之处，就比如：
[0003]如公开号为CN209460364U的一种集成电路测试装置，其缺少一种便于对集成电路板进行定位装夹的机构，导致工作人员在对集成电路板进行安装时十分麻烦，且在检测过程中容易出现抖动，十分不便，因此不实用；
[0004]且传统的集成电路测试装置缺少一种折叠机构，导致该装置体积较大，不便于携带，在使用时十分不便，因此传统的集成电路测试装置不实用。
[0005]所以我们提出了一种避免直接接触的集成电路测试装置，以便于解决上述中提出的问题。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种避免直接接触本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种避免直接接触的集成电路测试装置，其特征在于，包括：基体(1)，其外形为长方体形结构，所述基体(1)与水平方向平行，且基体(1)设置有支撑机构；旋转屏(5)，其设置在基体(1)的外侧，所述旋转屏(5)与基体(1)构成旋转机构，且旋转屏(5)设置有检测机构；夹紧板(9)，其设置在基体(1)的上端，所述夹紧板(9)与基体(1)构成滑动机构，且夹紧板(9)设置有定位装夹机构。2.根据权利要求1所述的一种避免直接接触的集成电路测试装置，其特征在于：所述基体(1)的支撑机构包括：折叠杆(2)，其设置在基体(1)的左右两端，所述折叠杆(2)与基体(1)构成旋转机构，且折叠杆(2)连接着底板(3)。3.根据权利要求1所述的一种避免直接接触的集成电路测试装置，其特征在于：所述旋转屏(5)的检测机构包括：检测装置(6)，其连接在旋转屏(5)的外侧。4.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：李磊，
申请(专利权)人：李磊，
类型：新型
国别省市：