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本发明提供一种低温真空低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法，其中，所述低温真空辐射温度参数校准系统包括：真空冷舱，用于模拟低温真空环境；红外温差辐射发射装置，其对应所述红外温差辐射发射装置设于所述真空冷舱内，用于发出具有设定温差的第一红外...
该专利属于北京振兴计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京振兴计量测试研究所授权不得商用。

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