低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法技术方案

本发明专利技术提供一种低温真空低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法，其中，所述低温真空辐射温度参数校准系统包括：真空冷舱，用于模拟低温真空环境；红外温差辐射发射装置，其对应所述红外温差辐射发射装置设于所述真空冷舱内，用于发出具有设定温差的第一红外辐射；准直光学装置，其设于所述真空冷舱内，用于接收所述第一红外辐射并将所述第一红外辐射准直处理后发射至目标红外载荷，以供所述目标红外载荷进行噪声等效温差校准和/或最小可分辨温差校准和/或最小可探测温差校准。解决了在轨空间的辐射温度参数难以校准，测试数据准确度无法评定，使得红外载荷低温红外目标探测性能测试产生了隐患的问题。性能测试产生了隐患的问题。性能测试产生了隐患的问题。

【技术实现步骤摘要】
低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法


[0001]本专利技术涉及在轨空间的红外载荷校准
，具体涉及一种低温真空低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法。

技术介绍

[0002]红外载荷即红外载荷成像器，随着航天技术的发展，红外载荷的应用已经扩展至临近空间及外太空，这些系统包括空间侦察系统、临近空间预警系统、外太空红外导引打击系统、高速突防武器系统、星载红外遥感系统等，随着这些红外载荷技战术性能要求的逐步提高，在低温真空条件下进行辐射温度参数校准已成为目标红外载荷进一步发展的必然趋势。
[0003]对于轨道卫星在轨空间的应用环境，低温真空辐射温度参数校准是红外载荷实现高性能指标的基础与前提条件，通过在其设计、工程研制、试验等阶段地面模拟环境中辐射温度参数校准，可使其关键技术指标得到校准，提高红外载荷目标识别能力，这对于预警系统、外太空红外导引系统、高速突防武器导引系统等具有极为重要的意义。为了满足相关型号技术指标，需在在轨空间环境下对其进行超低温辐射温度参数校准。校准状态须与空间实际工作状态一致，以保证校准的有效性，准确掌握红外载荷本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低温真空辐射温度参数校准系统，其特征在于，包括：真空冷舱，用于模拟低温真空环境；红外温差辐射发射装置，其设于所述真空冷舱内，用于发出具有设定温差的第一红外辐射；准直光学装置，其设于所述真空冷舱内，用于接收所述第一红外辐射并将所述第一红外辐射准直处理后发射至目标红外载荷，以供所述目标红外载荷进行噪声等效温差校准和/或最小可分辨温差校准和/或最小可探测温差校准。2.根据权利要求1所述低温真空辐射温度参数校准系统，其特征在于，所述低温真空辐射温度参数校准系统还包括：标准黑体，其设于所述真空冷舱内，用于发出温度稳定的第二红外辐射，以供所述目标红外载荷进行辐射温度、及温度均匀性校准。3.根据权利要求1所述低温真空辐射温度参数校准系统，其特征在于，所述红外温差辐射发射装置包括：靶标组件，其具有若干透光靶标；背景黑体，其对应所述透光靶标的反射面设置，用于向所述透光靶标发出温度稳定的第三红外辐射；目标黑体，其对应所述透光靶标的背面设置，用于向所述透光靶标发出温度稳定的第四红外辐射；其中，所述第三红外辐射经所述透光靶标的反射面反射，所述第四红外辐射穿过所述透光靶标，与所述第三红外辐射结合形成所述具有设定温差的第一红外辐射。4.根据权利要求3所述低温真空辐射温度参数校准系统，其特征在于，若干所述透光靶标至少包括方形靶、圆形靶、四杆靶。5.根据权利要求1所述低温真空辐射温度参数校准系统，其特征在于，所述准直光学装置包括：低温平行光管，其对应所述红外温差辐射发射装置的输出端设置，所述第一红外辐射从该低温平行光管的焦面处射入后从该低温平行光管的出瞳处射出。6.根据权利要求5所述低温真空辐射温度参数校准系统，其特征在于，所述准直光学装置还包括：二维摆镜，其分别对应所述准直光学装置、目标红外载荷设置，用于将所述准直光学装置准直处理后发射出的所述第一红外辐射扫描在所述目标红外载荷上；真空低温转台，所述二维摆镜活动安装在该真空低温转台上，用于驱使所述二维摆镜转动。7.一种低温真空辐射温度参数校准方法，其特征在于，包括：获取辐射温度目标值、辐射温度校准值，所述辐射温度目标值为标准黑体发出的第一红外辐射的辐射温度，所述辐射温度校准值为目标红外载荷观察所述第一红外辐射所测得的辐射温度；比对所述辐射温度目标值、辐射温度校准值；校准所述目标红外载荷的辐射温度；获取若干像元辐...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱超，孙红胜，王加朋，吴柯萱，翟思婷，郭亚玭，杜继东，
申请(专利权)人：北京振兴计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：