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评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸
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下载评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备的技术资料
文档序号:33089764
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本申请公开了一种评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备,评估待测屏体显示效果的方法包括:获取待测屏体的每个像素点的亮度;根据待测屏体的每个像素点的亮度计算待测屏体的亮度偏差值;根据最小可觉差值与亮度偏差值的预设对应关系以及待测...
该专利属于合肥维信诺科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合肥维信诺科技有限公司授权不得商用。
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