评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备，评估待测屏体显示效果的方法包括：获取待测屏体的每个像素点的亮度；根据待测屏体的每个像素点的亮度计算待测屏体的亮度偏差值；根据最小可觉差值与亮度偏差值的预设对应关系以及待测屏体的亮度偏差值得出待测屏体的最小可觉差值，评估标准稳定。标准稳定。标准稳定。

【技术实现步骤摘要】
评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请涉及显示
，尤其涉及一种评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]对于显示面板的加工厂而言，需要对其生产的显示面板的质量进行监控。最小可觉差(JND，Just noticeable difference)值属于显示面板的重要参数，厂家对显示面板的品质管控主要是评估显示面板的最小可觉差值，进而得到Mura(显示面板上任何人眼可识别的颜色差异)的严重性，从而判断屏体的显示效果。
[0003]目前，厂家通常对人员进行培训，然后通过人工观察的方式来评估显示面板Mura等级或Mura严重性；此种方法效率低，并且人工评估的主观性太高，评估标准不一，且感官类不良随着时间推移，程度会发生变化，要定期确认，给显示面板的品质管控带来很大的困扰。

技术实现思路

[0004]本申请提供的评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备，解决现有技术中评估屏体Mura的标准不统一的技术问题。
[0005]为了解决上述技术问本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评估待测屏体显示效果的方法，其特征在于，包括：获取待测屏体的每个像素点的亮度；根据所述待测屏体的每个所述像素点的亮度计算所述待测屏体的亮度偏差值；根据最小可觉差值与亮度偏差值的预设对应关系以及所述待测屏体的亮度偏差值得出所述待测屏体的最小可觉差值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测屏体的每个所述像素点的亮度计算所述待测屏体的亮度偏差值的步骤具体包括：根据所述待测屏体的每个所述像素点的亮度得到所述待测屏体的亮度基准值；计算每个所述像素点的亮度与所述亮度基准值的差值的绝对值和/或方差；计算所述差值的绝对值之和，和/或所述方差之和得到所述待测屏体的亮度偏差值；优选地，所述待测屏体的亮度基准值为所述待测屏体上全部所述像素点的亮度平均值或所述待测屏体上全部所述像素点的亮度中位数。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最小可觉差值与所述亮度偏差值的预设对应关系通过以下方法获得：获取多片参考屏体，其中，多片所述参考屏体在同一条件下生产且具有多个不同的最小可觉差值；获取所述参考屏体的每个像素点的亮度；根据所述参考屏体的每个所述像素点的亮度计算所述参考屏体的亮度偏差值；根据多片所述参考屏体的亮度偏差值和多片所述参考屏体的最小可觉差值得到最小可觉差值与所述亮度偏差值的预设对应关系。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考屏体的每个所述像素点的亮度计算所述参考屏体的亮度偏差值的步骤具体包括：根据所述参考屏体的每个所述像素点的亮度计算所述参考屏体的亮度基准值；计算所述参考屏体的每个所述像素点的亮度与所述参考屏体的所述亮度基准值的差值的绝对值和/或方差；计算所述差值的绝对值之和，和/或所述方差之和得到所述参考屏体的亮度偏差值；优选地，所述参考屏体的亮度基准值为所述参考待测屏体上全部所述像素点的亮度平均值或所述参考屏体上全部所述像素点的亮度中位数。5.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵景阳，李永岗，
申请(专利权)人：合肥维信诺科技有限公司，
类型：发明
国别省市：