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本申请公开了一种芯片测试方法、芯片测试设备及系统，芯片测试方法包括：测量芯片内部二极管的导通电压；根据所述导通电压以及预先确定的所述二极管的压降
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该专利属于宁波奥拉半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波奥拉半导体有限公司授权不得商用。

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