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本申请提供一种待转移器件的位置识别方法及设备；在转移设备的目标基台上承载的Wafer的分布区域中，识别到目标标记区域后，确定目标标记区域对应的标记点的第一目标位置坐标，分布区域为待转移器件在Wafer中的占用区域，基于第一目标位置坐标和标记...
该专利属于合肥欣奕华智能机器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥欣奕华智能机器有限公司授权不得商用。

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