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一种分析晶粒特征的方法技术
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文档序号:33085041
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本发明特别涉及一种分析晶粒特征的方法,属于金相分析技术领域,方法包括:将待分析样品进行预处理,得到含分析面的待溅射样品;将所述待溅射样品的分析面进行辉光放电溅射处理,获得待扫描面;将所述待扫描面进行显微镜扫描,得到待扫描面的形貌数据;根据所...
该专利属于东风汽车集团股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过东风汽车集团股份有限公司授权不得商用。
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