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本发明实施例提供一种测试方法和装置，应用于对目标芯片的测试中，方法包括：获取测试所述目标芯片所需的测试向量；其中，所述测试向量的数量为至少一个；分别从每个所述测试向量的测试端口信息中提取扫描端口信息；根据预设压缩倍数，分别对所述每个测试向量...
该专利属于龙芯中科技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过龙芯中科技术股份有限公司授权不得商用。

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