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本申请涉及一种成像检测方法及系统，其包括如下步骤：使用单点控制光源对测量物进行照明，单点控制光源包括呈阵列式分布的多颗独立控制的灯珠；使用成像设备，拍摄测量物的图像；根据所拍摄的图像的亮度与预设的亮度，控制单点控制光源的各个灯珠的电压，直至...该专利属于武汉精测电子集团股份有限公司上海精濑电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精测电子集团股份有限公司上海精濑电子技术有限公司授权不得商用。