一种成像检测方法及系统技术方案

本申请涉及一种成像检测方法及系统，其包括如下步骤：使用单点控制光源对测量物进行照明，单点控制光源包括呈阵列式分布的多颗独立控制的灯珠；使用成像设备，拍摄测量物的图像；根据所拍摄的图像的亮度与预设的亮度，控制单点控制光源的各个灯珠的电压，直至所拍摄的图像的亮度与预设的亮度一致。本申请实施例提供了一种成像检测方法及系统，本申请提供的单点控制光源对测量物进行照明，成像设备对测量物进行成像，然后结合预设的亮度，对拍摄的图像的亮度进行分析，根据分析结果，控制单点控制光源的各个灯珠的电压，从而调整各个灯珠的亮度，通过少量有限次循环反馈，改善成像效果，达到应用场景取像亮度均匀或可控的不均匀性亮度的目的。度的目的。度的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种成像检测方法及系统


[0001]本申请涉及成像检测
，特别涉及一种成像检测方法及系统。

技术介绍

[0002]随着显示行业的快速发展，显示面板缺陷检测所应用的场景也越来越多样化。比如大放大倍率显微成像检测常使用的内同轴明场照明场景，再比如透明材料缺陷检测常需要背光场景等等。
[0003]在上述及一些其它成像检测应用场景中，成像检测时，难以避免地会出现如图1所示的中间亮度高而边缘亮度低的情况，且这种亮度差异有时候比较大，不能达到所需要的比较均匀的亮度或者可控的不均匀性亮度。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种成像检测方法及系统，以解决相关技术中不能达到所需要的比较均匀的亮度或者可控的不均匀性亮度的问题。
[0005]第一方面，提供了一种成像检测方法，其包括如下步骤：
[0006]使用单点控制光源对测量物进行照明，所述单点控制光源包括呈阵列式分布的多颗独立控制的灯珠；
[0007]使用成像设备，拍摄所述测量物的图像；
[0008]根据所拍摄的图像的亮度与预设的亮度，控制所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种成像检测方法，其特征在于，其包括如下步骤：使用单点控制光源(6)对测量物(7)进行照明，所述单点控制光源(6)包括呈阵列式分布的多颗独立控制的灯珠(10)；使用成像设备(8)，拍摄所述测量物(7)的图像；根据所拍摄的图像的亮度与预设的亮度，控制所述单点控制光源(6)的各个灯珠(10)的电压，直至所拍摄的图像的亮度与预设的亮度一致。2.如权利要求1所述的成像检测方法，其特征在于，根据所拍摄的图像的亮度与预设的亮度，控制所述单点控制光源(6)的各个灯珠(10)的电压，直至所拍摄的图像的亮度与预设的亮度一致，包括如下步骤：对所拍摄的图像进行区域划分，获取各个区域的亮度值；将所述区域的亮度值，与预设的亮度中，与该区域相对应的亮度值进行比对，若亮度值不一致，则调整照亮该区域的灯珠(10)的电压，直至相一致；若亮度值相一致，则进入下一个区域；遍历所有区域，完成亮度值的调整。3.如权利要求1所述的成像检测方法，其特征在于，所述单点控制光源(6)包括：光源本体(1)，所述光源本体(1)包括所述灯珠(10)，各所述灯珠(10)的阳极用于连接同一个电源(2)；中央处理器(3)，其用于接收主控装置(9)发来的控制指令，所述主控装置(9)对比所拍摄的图像的亮度与预设的亮度，根据对比结果，生成所述控制指令；多通道恒流控制器(4)，其与所述中央处理器(3)相连接，所述多通道恒流控制器(4)具有多路电压控制通道(40)，每一路电压控制通道(40)的一端连接于一个所述灯珠(10)的阴极，并根据控制指令，独立地控制该灯珠(10)的电压，以控制该灯珠(10)的亮度，每一路电压控制通道(40)的另一端用于连接所述电源(2)。4.如权利要求3所述的成像检测方法，其特征在于，所述电压控制通道(40)包括：MOS管(400)，其漏极连接灯珠(10)的阴极，源极连接检流电阻(401)；数模转换芯片(402)，其连接所述中央处理器(3)，并根据所述控制指令，输出目标电压；驱动器(403)，其连接所述数模转换芯片(402)，并根据所述目标电压，驱动MOS管(400)的栅极；系统地(404)，其连接所述检流电阻(401)。5.如权利要求4所述的成像检测方法，其特征在于：所述电压控制通道(40)还包括模数转换芯片(405)，所述模数转换芯片(405)连接所述检流电阻(401)和中央处理器(3)，所述模数转换芯片(405)用于检测所述检流电阻(401)电压是否等于目标电压，并将检测结果反馈给中央处理器(...

【专利技术属性】
技术研发人员：耿继新，郑增强，钟凡，程慧东，王稷龙，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司上海精濑电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：