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本发明实施例公开了SMT首件测试方法、装置、计算机设备及计算机存储介质，在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围，其中所述待测试元件为测量类元件或目视类元件，然后，在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述...
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