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本发明本发明涉及分析化学技术领域，具体说涉及一种测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法。利用电感耦合等离子体发射光谱法测定纯铜中痕量稀土元素镧含量，该方法测定的镧含量范围为0.00001％～0.10％。本发明所述方法简单、快速、准确、检测成本低...
该专利属于中国科学院金属研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院金属研究所授权不得商用。

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