一种测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法技术

本发明专利技术本发明专利技术涉及分析化学技术领域，具体说涉及一种测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法。利用电感耦合等离子体发射光谱法测定纯铜中痕量稀土元素镧含量，该方法测定的镧含量范围为0.00001％～0.10％。本发明专利技术所述方法简单、快速、准确、检测成本低；而且采用本发明专利技术中限定的参数进行测定，镧检出限降低了7倍，可以实现以电感耦合等离子体发射光谱仪测定痕量稀土镧。稀土镧。

【技术实现步骤摘要】
一种测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法


[0001]本专利技术本专利技术涉及分析化学
，具体说涉及一种测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法。

技术介绍

[0002]当今电子、电气、通信等行业发展十分迅速，高纯铜材在半导体、可控硅真空电子管、粒子加速器、微波通信、雷达、超导、电力贮存、磁动力等成套系统及设备元器件中被大量使用，随着计算机CPU的工作电压降低，高纯铜材在未来有可能替代目前的框架材料，但目前国内能生产高品质高纯铜的厂家非常少且质量不稳定，国内对高品质高纯铜材的需求只能依靠国外进口。
[0003]稀土金属具有较高的化学活性及孕育、变质、强化等作用，且资源丰富，是冶金工业中的有效添加剂，应用在铜中能实现脱氧、脱气和去除杂质、净化铜液熔体、提高铜液纯度、改善铜材的导电及耐蚀性能等作用。稀土微合金化对铜及铜合金材料的各种性能能够产生重要影响，研究发现适量稀土La添加能够净化纯铜基体，细化晶粒，消除柱状晶，提高纯铜的导电性以及强度、硬度和耐磨性，但过量的La添加反而使组织粗化。目前稀土铜的研究多集中在试验领域，未完全实现工业化应用。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于：利用电感耦合等离子体发射光谱法测定纯铜中痕量稀土元素镧含量。2.根据权利要求1所述的测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于：所述方法测定的镧含量范围为0.00001％～0.10％。3.根据权利要求1或2所述的测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法，其特征在于，步骤如下：1)试液的制备：准确称取适量纯铜试样于钢铁量瓶中，采用硝酸溶解后用水稀释至刻度，混匀；2)校准曲线溶液的制备：称取与步骤1)质量相同的不含待测元素镧的高纯铜若干份分别置于与步骤1)相同的钢铁量瓶中，按步骤1)所述方法进行样品处理；根据所述试样中镧元素含量范围，选择合适的校准曲线范围；3)仪器的准备：进行分析前，采用电感耦合等离子体发射光谱仪作为试验仪器，采用信背比及净强度作为指标确定仪器参数；4)测量：分别测量试液及校准曲线溶液；5)校准曲线绘制；6)结果计算：镧的含量以质量分数W
La
计，数值以％表示，按式(Ⅰ)计算：式中：ρ
La
—从校准曲线上得到的镧元素质量浓度，单位为微克/升；V—试样溶液体积的数值，单位为...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭宏杰，
申请(专利权)人：中国科学院金属研究所，
类型：发明
国别省市：