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本发明提供一种用于测试半导体装置的设备，其中半导体装置具有相对的第一侧和第二侧。半导体装置包括在第一侧上的至少一个功能单元和在第二侧上的多个端子。所述设备可以包括－但并不局限于－安装结构以及多个电极。安装结构具有至少一个台架，该台架构造为允...
该专利属于雅马哈株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过雅马哈株式会社授权不得商用。

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