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本实用新型公开了一种半导体激光器抗回返光的测试装置，该测试装置包括激光发射单元和滤光单元；滤光单元位于激光发射单元和待测半导体激光器之间，用于滤除待测半导体激光器输出的激光，使其无法到达激光发射单元，且使激光发射单元输出的激光进入待测半导体...
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