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本发明涉及芯片封装技术领域,提供一种多层打线封装的三维模型识别及构建方法,包括:步骤1,构建包含打线封装参数的打线信息文件,其中,所述打线封装参数包括打线名称、打线层次、打线材料、打线方向、打线直径、打线弧高、芯片高度、芯片侧角、终点倾角、...该专利属于芯瑞微(上海)电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过芯瑞微(上海)电子科技有限公司授权不得商用。
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本发明涉及芯片封装技术领域,提供一种多层打线封装的三维模型识别及构建方法,包括:步骤1,构建包含打线封装参数的打线信息文件,其中,所述打线封装参数包括打线名称、打线层次、打线材料、打线方向、打线直径、打线弧高、芯片高度、芯片侧角、终点倾角、...