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一种半导体晶圆检测用精度高的检测仪制造技术
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文档序号:32956624
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本实用新型公开了一种半导体晶圆检测用精度高的检测仪,包括底板,所述底板的顶部固定连接有底箱,所述底箱内腔底部的右侧通过转轴活动连接有从动齿轮,所述从动齿轮的顶部固定连接有放置箱。本实用新型通过第二伺服电机的输出端带动第一螺杆进行转动,第一螺...
该专利属于吴忠华所有,仅供学习研究参考,未经过吴忠华授权不得商用。
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